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晶圓冷鐓加工方法與流程

2021

03/16 09:47:38
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本發(fā)明涉及半導體技術(shù)領域,更為具體地,涉及一種晶圓冷鐓加工方法。

背景技術(shù):

近年來,隨著半導體器件不斷響應“更快、更便宜、更小”的需求,為滿足制造需求,減薄晶圓已是大勢所趨,但超薄器件晶圓具有柔性和易碎性,容易翹曲和起伏,因此需要一種支撐系統(tǒng)來使冷鐓加工順利進行。在此背景下,臨時鍵合/解鍵合技術(shù)應運而生。將待冷鐓加工的晶元與承載晶元進行鍵合,鍵合后對待冷鐓加工晶元進行冷鐓加工處理,由于有承載晶元的補強,待冷鐓加工晶元不容易產(chǎn)生翹曲和起伏。待冷鐓加工晶元冷鐓加工完成后,將待冷鐓加工晶元與承載晶元進行剝離。傳統(tǒng)往往采用激光或者溶劑剝離,消耗的能量或者成本較大,例如激光剝離的成本在數(shù)千美元/小時。

為解決上述問題,本發(fā)明提供了一種新的晶圓冷鐓加工方法。

技術(shù)實現(xiàn)要素:

鑒于上述問題,本發(fā)明的目的是提供一種晶圓冷鐓加工方法,以解決傳統(tǒng)的晶圓冷鐓加工方法能量消耗大和成本大等問題。

本發(fā)明提供一種晶圓冷鐓加工方法,包括:

在承載晶圓的表面涂覆磁性粒子;

將待冷鐓加工晶圓鍵合在涂覆有磁性粒子的承載晶圓上,其中,鍵合后的待冷鐓加工晶圓與承載晶圓之間形成有金屬固化層,并且所述磁性粒子位于所述承載晶圓與所述待冷鐓加工晶圓之間;

對所述待冷鐓加工晶圓進行冷鐓加工,冷鐓加工后的晶圓為成品晶圓;

在所述承載晶圓的下方放置磁鐵,所述磁鐵移動并帶動所述磁吸粒子產(chǎn)生位移,使得所述磁吸粒子切割所述金屬固化層,所述承載晶圓與所述成品晶圓之間出現(xiàn)縫隙;

將激光照射在所述成品晶圓上,使得所述成品晶圓從所述承載晶圓上剝離。

此外,優(yōu)選的方案是,在將待冷鐓加工晶圓鍵合在涂覆有磁性粒子的承載晶圓上之前,將涂覆磁吸粒子的溶劑揮發(fā)。

此外,優(yōu)選的方案是,通過小于300nm波長的激光將待冷鐓加工晶圓鍵合在涂覆有磁性粒子的承載晶圓上。

此外,優(yōu)選的方案是,所述成品晶圓的厚度為50-100nm。

此外,優(yōu)選的方案是,在將激光照射在所述成品晶圓上,使得所述成品晶圓從所述承載晶圓上剝離的過程中,激光的波長為400-600nm。

此外,優(yōu)選的方案是,對所述待冷鐓加工晶圓進行冷鐓加工的過程包括:減薄、蝕刻、圖案化或者金屬化中的一種或幾種。

此外,優(yōu)選的方案是,所述成品晶圓從所述承載晶圓上剝離之后,對所述成品晶圓和所述承載晶圓進行清洗,獲得所需的成品晶圓。

從上面的技術(shù)方案可知,本發(fā)明提供的晶圓冷鐓加工方法,通過在承載晶圓的下方設置磁鐵,吸引承載晶圓上面的磁性粒子,讓承載晶圓上面的磁性粒子產(chǎn)生輕微移動,這樣就會使兩個晶圓之間產(chǎn)生微縫,再采用激光工藝在晶圓上以最小力控制載體從承載晶圓上剝離,再執(zhí)行成品晶圓和承載晶圓的清洗,采用本發(fā)明的晶圓冷鐓加工工藝,可以大大減少激光分離的時間,節(jié)省生產(chǎn)成本的同時提高生產(chǎn)效率。

為了實現(xiàn)上述以及相關(guān)目的,本發(fā)明的一個或多個方面包括后面將詳細說明的特征。下面的說明以及附圖詳細說明了本發(fā)明的某些示例性方面。然而,這些方面指示的僅僅是可使用本發(fā)明的原理的各種方式中的一些方式。此外,本發(fā)明旨在包括所有這些方面以及它們的等同物。


具體實施方式

在下面的描述中,出于說明的目的,為了提供對一個或多個實施例的全面理解,闡述了許多具體細節(jié)。然而,很明顯,也可以在沒有這些具體細節(jié)的情況下實現(xiàn)這些實施例。

針對前述提出的傳統(tǒng)的晶圓冷鐓加工方法能量消耗大和成本大等問題,本發(fā)明提供了一種晶圓冷鐓加工方法。

以下將結(jié)合附圖對本發(fā)明的具體實施例進行詳細描述。

為了說明本發(fā)明提供的晶圓冷鐓加工方法,圖1示出了根據(jù)本發(fā)明實施例的晶圓冷鐓加工方法流程。

如圖1所示,本發(fā)明提供的晶圓冷鐓加工方法包括:

S110:在承載晶圓的表面涂覆磁性粒子;

S120:將待冷鐓加工晶圓鍵合在涂覆有磁性粒子的承載晶圓上,其中,鍵合后的待冷鐓加工晶圓與承載晶圓之間形成有金屬固化層,并且磁性粒子位于承載晶圓與所述待冷鐓加工晶圓之間;

S130:對待冷鐓加工晶圓進行冷鐓加工,冷鐓加工后的晶圓為成品晶圓;

S140:在承載晶圓的下方放置磁鐵,磁鐵移動并帶動磁吸粒子產(chǎn)生位移,使得磁吸粒子切割金屬固化層,承載晶圓與成品晶圓之間出現(xiàn)縫隙;

S150:將激光照射在成品晶圓上,使得成品晶圓從承載晶圓上剝離。

上述為本發(fā)明詳細的晶圓冷鐓加工方法,結(jié)合圖2至圖7所示的實施例,詳細地描述了晶圓的冷鐓加工方法,其中,圖2示出了根據(jù)本發(fā)明實施例的承載晶圓結(jié)構(gòu);圖3示出了根據(jù)本發(fā)明實施例的晶圓準備鍵合結(jié)構(gòu);圖4示出了根據(jù)本發(fā)明實施例的晶圓鍵合結(jié)構(gòu);圖5示出了根據(jù)本發(fā)明實施例的晶圓與磁鐵結(jié)構(gòu);圖6示出了根據(jù)本發(fā)明實施例的激光照射晶圓結(jié)構(gòu);圖7示出了根據(jù)本發(fā)明實施例的晶圓剝離結(jié)構(gòu)。

圖1結(jié)合圖2至圖7所示,在A晶圓作為承載晶圓1,在承載晶圓1的表面上涂覆有磁性粒子2,磁性粒子2可以不用涂滿,針對性的畫一些線條/圖案均可,并且在將待冷鐓加工晶圓3鍵合在涂覆有磁性粒子2的承載晶圓1上之前,將涂覆磁吸粒子2的溶劑揮發(fā)。

將待冷鐓加工晶圓3對準涂覆有磁性粒子2的承載晶圓1,通過小于300nm波長的激光將待冷鐓加工晶圓3鍵合在涂覆有磁性粒子2的承載晶圓1上。其中,待冷鐓加工晶圓3、成品晶圓3’的厚度為50-100nm。

將鍵合在一起的B晶圓(待冷鐓加工晶圓3)和承載晶圓1后,對B晶圓的背面冷鐓加工,得到“B”晶圓(成品晶圓3’);一般來說,對待冷鐓加工晶圓3’進行冷鐓加工的過程包括:減薄、蝕刻、圖案化或者金屬化中的一種或幾種。

A晶圓(承載晶圓1)下方,放置磁鐵5前后左右移動,會帶動承載晶圓1上面的磁性粒子2產(chǎn)生位移,進而A(承載晶圓1)、“B”(成品晶圓3’)之間的微隙會擴大。

也就是說,鍵合后的待冷鐓加工晶圓3’與承載晶圓1之間形成有金屬固化層4,并且磁性粒子1位于承載晶圓與待冷鐓加工晶圓之間。磁性粒子1在金屬固化層4之間產(chǎn)生位移,使得待冷鐓加工晶圓3’與承載晶圓1之間的鍵合力消失。

在將激光6照射成品晶圓3’上,使得成品晶圓3’從承載晶圓1上剝離的過程中,激光6的波長為400-600nm,使得成品晶圓以最小力控制載體從承載晶圓1上剝離。

成品晶圓3’從承載晶圓1上剝離之后,對成品晶圓3’和承載晶圓1進行清洗,獲得所需的成品晶圓3’。

通過上述實施方式可以看出,本發(fā)明提供的晶圓冷鐓加工方法,通過在承載晶圓的下方設置磁鐵,吸引承載晶圓上面的磁性粒子,讓承載晶圓上面的磁性粒子產(chǎn)生輕微移動,這樣就會使兩個晶圓之間產(chǎn)生微縫,再采用激光工藝在晶圓上以最小力控制載體從承載晶圓上剝離,再執(zhí)行成品晶圓和承載晶圓的清洗,采用本發(fā)明的晶圓冷鐓加工工藝,可以大大減少激光分離的時間,從而降低生產(chǎn)成本,提高生產(chǎn)效率。

如上參照附圖以示例的方式描述了根據(jù)本發(fā)明提出的晶圓冷鐓加工方法。但是,本領域技術(shù)人員應當理解,對于上述本發(fā)明所提出的晶圓冷鐓加工方法,還可以在不脫離本發(fā)明內(nèi)容的基礎上做出各種改進。因此,本發(fā)明的保護范圍應當由所附的權(quán)利要求書的內(nèi)容確定。

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